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手持礦石X熒光檢測(cè)儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:手持礦石X熒光檢測(cè)儀 可分析從從鎂 (Mg)到钚 (Pu)之間的所有83種元素,
手持式礦石分析儀 標(biāo)配:Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti,Th等幾十種元素;手持式礦石分析儀 可檢測(cè):鐵礦、銅礦、鎳礦、鉭礦、鈮礦、鉛礦、鋅礦、鉻礦、鉬

更新時(shí)間:2024-03-11
產(chǎn)品型號(hào):JC-R130
產(chǎn)品產(chǎn)地:山東
詳情介紹
品牌精測(cè)應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,地礦,能源,建材

手持礦石X熒光檢測(cè)儀

手持礦石X熒光檢測(cè)儀

手持礦山X熒光檢測(cè)

手持礦山X熒光檢測(cè)

手持X熒光檢測(cè)儀

手持X熒光檢測(cè)儀


手持礦石X熒光光譜儀

手持式礦石分析儀 用于與礦石相關(guān)的整條產(chǎn)業(yè)鏈,可以幫助科研及技術(shù)人員快速識(shí)別貧礦、富礦,在短時(shí)間內(nèi)鑒定礦石品位,艾克手持式礦石分析儀 在礦山繪圖、品位控制、巖心檢測(cè)、礦石貿(mào)易、港口貿(mào)易、礦石分揀、礦脈勘探等領(lǐng)域有非常廣泛的應(yīng)用性;

手持式礦石分析儀 可分析從從鎂 (Mg)到钚 (Pu)之間的所有83種元素,
手持式礦石分析儀 標(biāo)配:Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti,Th等幾十種元素;手持式礦石分析儀 可檢測(cè):鐵礦、銅礦、鎳礦、鉭礦、鈮礦、鉛礦、鋅礦、鉻礦、鉬礦、銀礦、錳礦、鈦礦、銻礦等等幾十種礦石

手持式礦石分析儀  技術(shù)參數(shù)
【重量】基本上重量:1.4kg,上電池后:1.5kg
【尺寸(高x寬x長(zhǎng))】300mm x 90mm x 220mm
【激發(fā)源】射線管靶材5種可選擇 金(Au)、銀(Ag)、鎢(W)、鉭(Ta),鈀(Pb)
【電壓電流與功率】大功率微型X射線管40KV、100MA、4W
【濾波器】六種可選擇的濾波器根據(jù)不同的實(shí)物自動(dòng)調(diào)節(jié)
【探測(cè)器】高性能高分辨率Si-Pin X射線探測(cè)器
【探測(cè)器制冷溫度】 Peltier效應(yīng)半導(dǎo)體制冷,制冷溫度-35
【標(biāo)準(zhǔn)片】外置316標(biāo)準(zhǔn)片;
【解析度】<180
【電源】8小時(shí)/2塊鋰電源及交流電源
【處理器】Intel 400MHz StrongArm處理器
【操作系統(tǒng)】移動(dòng)Windows CE系統(tǒng)
【兼容性】藍(lán)牙,GPS,打印
【軟件標(biāo)準(zhǔn)模式】Alloy
【數(shù)據(jù)處理】8G大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)卡:≥40, 000組數(shù)據(jù)及光譜圖,可隨時(shí)通過儀器觸屏電腦或?qū)С龅絺€(gè)人PC查看。
【數(shù)據(jù)分析】多種分析模式,包括基本參數(shù),Compton歸一化,經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)模式,光譜配色
【數(shù)據(jù)顯示】集中于ppm與百分比(%)顯示,光譜或峰強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率)或用戶定的單位
【數(shù)據(jù)傳輸】RS232串行電纜,藍(lán)牙,文件TXT,EXCEL格格輸出。
【顯示屏】彩色,高分辨率3.5寸TFT工業(yè)級(jí)觸摸屏,大圖標(biāo)圖形界面,任何光線條件下清晰可見;
【外形設(shè)計(jì)】一體化機(jī)身設(shè)計(jì),堅(jiān)固,防水防塵防凍,有效防振,適合野外、潮濕或低溫等環(huán)境使用。
【安全操作】一觸式“扳機(jī)",軟件自動(dòng)定時(shí)鎖扳機(jī)或自動(dòng)停止測(cè)試防護(hù)功能;判斷測(cè)試窗前方?jīng)]有樣品后2秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)閉X射線
【分析元素】 Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti和Th等不少于25種元素;
【測(cè)試環(huán)境條件】溫度-20~+50℃,濕度<80%RH。
【開機(jī)時(shí)間】?jī)x器開機(jī)到進(jìn)入測(cè)試界面時(shí)間不超過15秒鐘
【校正】?jī)x器出廠前已經(jīng)校正;但儀器仍具有可建立有針對(duì)性的校正曲線功能,適用于特定樣品的精確測(cè)試


手持礦石X熒光光譜儀



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